<em id="j4n9n"><strike id="j4n9n"></strike></em>

        <nav id="j4n9n"><big id="j4n9n"><rt id="j4n9n"></rt></big></nav>

        1. <dd id="j4n9n"><center id="j4n9n"><video id="j4n9n"></video></center></dd>

          歡迎您來到蘇州工業園區匯光科技有限公司!

          蘇州工業園區匯光科技有限公司
          地址:蘇州市工業園區唯新路83號
          手機:18962209715 (微信:WXF1983109)
          電話:0512-67625945
          傳真:0512-67629676

          紅外顯微鏡
          您現在的位置:首頁 > 產品展示 > 紅外顯微鏡
          紅外顯微鏡
          紅外顯微鏡

          產品型號:MX系列
          發布時間:2018-6-11 8:48:45
          訪問次數:2049 次

          紅外顯微鏡-紅外顯微鏡介紹

          BX51-IR型近紅外顯微鏡

          MX63L-IR型近紅外顯微鏡(12”晶圓檢查專用顯微鏡)

          紅外物鏡

          LMPLN5XIRLMPLN10XIRLCPLN20XIRLCPLN50XIRLCPLN100XIR注意



          倍數數值孔徑工作距離(mm)硅片厚度分辨率(μm)
          5X0.123——5.50
          10X0.318——1.83
          20X0.458.30-1.21.22
          50X0.654.50-1.20.85
          100X0.851.20-10.65


          注:分辨率在1100nm波長下計算


          新舊紅外物鏡性能對比


          LMPL20XIR(舊型號)LCPLN20XIR(新型號)LMPL50XIR(舊型號)
          LCPLN50XIR(新型號)LMPL100XIR(舊型號)LCPLN100XIR(新型號)


          紅外顯微鏡的應用

          – Vcsel芯片隱裂(cracks)、InGaAs瑕疵紅外無損檢測

          – 法拉第激光隔離器,Faraday Isolator近紅外無損檢測

          – die chip 失效分析

          – 紅外透射Wafer正反面定位標記重合誤差無損測量

          – 硅基半導體Wafer、碲化鎘CdTe、碲鎘汞HgCdTe襯底無損紅外檢測

          – 太陽能電池組件綜合缺陷紅外檢測

          Vcsel芯片隱裂(cracks)

          法拉第激光隔離器膠合偏振片無損檢驗

          die chip 失效分析

          紅外Wafer正反面定位標記重合誤差無損測量

          硅基半導體Wafer、碲化鎘CdTe、碲鎘汞HgCdTe襯底 缺陷無損紅外檢測

          太陽能電池組件綜合缺陷紅外檢測

          上一篇:沒有資料
          下一篇:沒有資料

          Copyright ? 匯光科技 地址:蘇州市工業園區唯新路83號 電話:0512-67625945 傳真:0512-67629676 郵箱:sales@szhgo.cn
          備案號:蘇ICP備18008002號  蘇公網安備 32050602010640號  

          蘇州工業園區匯光科技有限公司主營:金相顯微鏡 體視顯微鏡 視頻顯微鏡 測量顯微鏡 網站地圖
          国产无遮挡乱子伦免费精品_精品伊人久久久大香线蕉天堂_久久综合另类图片小说_精品bbwbbwbbwbbwbbwbbw